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业界考虑进一步放宽未来 HBM 内存高度限制,混合键合导入恐再延后

文 / 小亚 2026-03-08 23:39:07 来源:亚汇网

而参考韩媒ZDNETKorea与ETNEWS的报道,面对下一代堆叠可达20层的HBM,行业正在考虑进一步放宽高度限制至800?m乃至更多。▲HBM结构,以美光HBM3E为例如果想在现有的775μm内以现有堆叠容纳20层DRAM,则需要对DRAM晶圆进行大幅减薄,这会增加晶圆损坏的风险,进一步降低本已足够复杂的HBM的良率。削减整体堆栈厚度的另一个方向是降低两层DRAM的间距,而这需要从键合方面着手。已被用于NAND闪存的混合(铜)键合可大幅度降低间距,但其技术难度极高的同时也需要大量的设备投资。如果高度限制被放宽,混合键合的导入也将被延后。ZDNETKorea还提供了另一个视角:台积电在先进封装领域占据主导地位,对标准的制定也有很大话语权。而台积电推动的3D先进封装技术SoIC会导致与HBM堆栈配套的XPU复合体增高,这为HBM“长高”提供了天然裕量。▲SoC与SoIC下的不同形态CoWoS广告声明:文内含有的对外跳转链接(包括不限于超链接、二维码、口令等形式),用于传递更多信息,节省甄选时间,结果仅供参考,亚汇网所有文章均包含本声明。

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